年度 2013
全部作者 锺 菁哲(国立中正大学资讯工程学系)
论文名称 High-resolution and all-digital on-chip delay measurement with low supply sensitivity for SoC applications
期刊名称 IEICE Electronics Express (ELEX)
卷数 11
期数 3
起页 20131011
语言 英文