年度 2012
全部作者 Ching-wei Yeh, Yuan-Chang Chen, Jinn-Shyan Wang
论文名称 Towards Process Variation-Aware Power Gating
期刊名称 IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems
卷数 20
期数 11
起页 1929
迄页 1937
语言 英文